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Semiconductor Device Reliability - Nato Science Series E: 1990 edition

Nato Advanced Research Workshop on Semiconductor Device Reliability

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Proceedings of the NATO Advanced Research Workshop, Heraklion, Crete, Greece, June 4-9, 1989

575 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	31 de dezembro de 1989
ISBN13	9780792305361
Editoras	Springer
Páginas	575
Dimensões	156 × 234 × 31 mm · 997 g
Idioma	English
Editor	Christou, A.
Editor	Unger, B.A.