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Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Livros - Springer - 9780792382959 - 31 de outubro de 1998

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Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

Angela Krstic

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Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 1998 edition

Angela Krstic

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	31 de outubro de 1998
ISBN13	9780792382959
Editoras	Springer
Páginas	191
Dimensões	155 × 235 × 12 mm · 476 g
Idioma	English

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