Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Livros - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 30 de novembro de 1995
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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

Frans P. M. Beenker

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Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.

212 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de novembro de 1995
ISBN13 9780792396581
Editoras Kluwer Academic Publishers
Páginas 212
Dimensões 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
Idioma English  

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