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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 1º edição
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R$ 1.657,90
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 5 de fevereiro de 1998 |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| Editoras | Taylor & Francis Ltd |
| Páginas | 262 |
| Dimensões | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| Idioma | Inglês |
