Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23 de novembro de 2010
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 23 de novembro de 2010
ISBN13 9781441923066
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 282
Dimensões 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Idioma Inglês  

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