Conte aos seus amigos sobre este item:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| Mídia | Livros Book |
| Lançado | 31 de maio de 2013 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| Editoras | Springer-Verlag New York Inc. |
| Páginas | 689 |
| Dimensões | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| Idioma | Inglês |
Mais por Joseph Goldstein
Mostrar tudoOutros também compraram
Ver tudo de Joseph Goldstein ( por exemplo Paperback Book , Hardcover Book , Book , CD e Cartas de oráculo/tarô )
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro