Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461372318 - 9 de novembro de 2012
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

Lawrence C Wagner

Preço
DKK 1.019,20
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 3 - 9 de jul

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Também disponível como:

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 9 de novembro de 2012
ISBN13 9781461372318
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 255
Dimensões 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g
Idioma English  
Editor Wagner, Lawrence C.

Ver tudo de Lawrence C Wagner ( por exemplo Hardcover Book e Paperback Book )