Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13 de abril de 2014
Caso a capa e o título não sejam correspondentes, considere o título como correto

Ruijing Shen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Preço
R$ 592,90
excluindo impostos

Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)

Espera-se estar pronto para envio 9 - 13 de nov
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro
Receba avisos sobre novos lançamentos de Ruijing Shen

O que dizem nossos clientes:

Política de devolução de 14 dias, em conformidade com a lei europeia de proteção do consumidor
Melhor classificação na Trustpilot
Adicione à sua lista de desejos do iMusic

Ainda não avaliado

Também disponível como:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.

306 pages, 61 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 13 de abril de 2014
ISBN13 9781489987877
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 306
Dimensões 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Idioma Inglês  

Mais da mesma editora

Ver tudo de Ruijing Shen