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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2th edição
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2th edição
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
350 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 18 de maio de 2015 |
| ISBN13 | 9781783265282 |
| Editoras | Imperial College Press |
| Páginas | 432 |
| Dimensões | 160 × 238 × 23 mm · 802 g |
| Idioma | English |