Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices - - Livros - Institution of Engineering and Technolog - 9781785616556 - 16 de dezembro de 2019
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Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

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Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

This book provides an up-to-date review of the experimental and theoretical methods used for studying defects in semiconductors, this book focuses on recent developments driven by the requirements of new materials, including nitrides, oxide semiconductors and 2-D semiconductors.

596 pages

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 16 de dezembro de 2019
ISBN13 9781785616556
Editoras Institution of Engineering and Technolog
Páginas 596
Dimensões 1,09 kg
Editor Tuomisto, Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland)