Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18 de julho de 2018
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Ireneusz Mrozek

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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 18 de julho de 2018
ISBN13 9783319912035
Editoras Springer International Publishing AG
Páginas 135
Dimensões 454 g
Idioma French  

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