Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Livros - Springer International Publishing AG - 9783319998244 - 22 de janeiro de 2019
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

Otwin Breitenstein

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321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 22 de janeiro de 2019
ISBN13 9783319998244
Editoras Springer International Publishing AG
Páginas 321
Dimensões 657 g
Idioma German  

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