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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
400 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 11 de outubro de 2017 |
| ISBN13 | 9783527340910 |
| Editoras | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Páginas | 384 |
| Dimensões | 251 × 176 × 25 mm · 978 g |
| Idioma | English |
| Editor | Lanza, Mario |
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