Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30 de novembro de 2010
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Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

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The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 30 de novembro de 2010
ISBN13 9783642093418
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 387
Dimensões 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Idioma Alemão  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald
Editor Tomitori, Masahiko

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