Advanced VLSI Design and Testability Issues - - Livros - Taylor & Francis Ltd - 9780367538361 - 15 de abril de 2022
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Advanced VLSI Design and Testability Issues 1th edição

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Advanced VLSI Design and Testability Issues 1th edição

This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 15 de abril de 2022
ISBN13 9780367538361
Editoras Taylor & Francis Ltd
Páginas 360
Dimensões 154 × 234 × 35 mm   ·   570 g
Idioma English  
Editor Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Editor Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Editor Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)