Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing - Adam Osseiran - Livros - Springer - 9780792386865 - 31 de outubro de 1999
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing 1999 edition

Adam Osseiran

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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Frontiers in Electronic Testing 1999 edition

Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed.

156 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 31 de outubro de 1999
ISBN13 9780792386865
Editoras Springer
Páginas 156
Dimensões 156 × 234 × 11 mm   ·   426 g
Editor Osseiran, Adam
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