Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - Livros - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 30 de junho de 1995
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Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

Sorin Cristoloveanu

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Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.

396 pages, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 30 de junho de 1995
ISBN13 9780792395485
Editoras Kluwer Academic Publishers
Páginas 396
Dimensões 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
Idioma English  
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