Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441942852 - 10 de novembro de 2010

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Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Manoj Sachdev Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

Name: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing
Price: 1080.9 BRL
Availability: OutOfStock
Author: Manoj Sachdev

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Hardcover Book

2nd ed. 2007 edition

(2007) R$ 1.080,90

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev

Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, black & white illustrations

Mídia	Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado	10 de novembro de 2010
ISBN13	9781441942852
Editoras	Springer-Verlag New York Inc.
Páginas	328
Dimensões	155 × 235 × 18 mm · 494 g
Idioma	Inglês