Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - 12 de outubro de 2012
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Angela Krstic

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In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 12 de outubro de 2012
Data do lançamento original 1998
ISBN13 9781461375616
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 191
Dimensões 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Idioma English  

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