Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4 de junho de 2013
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John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 4 de junho de 2013
ISBN13 9781489915245
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 462
Dimensões 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Idioma Inglês  
Editor Thong, John T.L.

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