High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Livros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489988478 - 20 de outubro de 2014
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Stephan Eggersgluss

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This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.

193 pages, 52 black & white tables, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 20 de outubro de 2014
ISBN13 9781489988478
Editoras Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 193
Dimensões 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Idioma English  
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