Conte aos seus amigos sobre este item:
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2th edição
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Preço
R$ 708,90
excluindo impostos
Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)
Espera-se estar pronto para envio 3 - 10 de jul
O que dizem nossos clientes:
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2th edição
Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
350 pages
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 18 de maio de 2015 |
| ISBN13 | 9781783265282 |
| Editoras | Imperial College Press |
| Páginas | 432 |
| Dimensões | 160 × 238 × 23 mm · 802 g |
| Idioma | English |