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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pierre-Richard Dahoo

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288 pages

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	6 de abril de 2021
ISBN13	9781786306876
Editoras	ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas	288
Dimensões	10 × 10 × 10 mm · 562 g
Idioma	English

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