Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Livros - Springer Verlag GmbH - 9783211206874 - 2 de junho de 2004
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Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 2 de junho de 2004
ISBN13 9783211206874
Editoras Springer Verlag GmbH
Páginas 554
Dimensões 178 × 254 × 31 mm   ·   1,18 kg
Idioma Inglês   Alemão  

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