Conte aos seus amigos sobre este item:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Preço
R$ 1.565,90
excluindo impostos
Item sob encomenda (no estoque do fornecedor)
Espera-se estar pronto para envio 10 - 16 de nov
Presentes de Natal podem ser trocados até 31 de janeiro
Receba avisos sobre novos lançamentos de Peter Pichler
Adicione à sua lista de desejos do iMusic
Também disponível como:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Mídia | Livros Paperback Book (Livro de capa flexível e brochura) |
| Lançado | 1 de novembro de 2012 |
| ISBN13 | 9783709172049 |
| Editoras | Springer Verlag GmbH |
| Páginas | 554 |
| Dimensões | 178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg |
| Idioma | Inglês |