Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science - Stefan Rein - Livros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540253037 - 23 de junho de 2005
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science 2005 edition

Stefan Rein

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Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

492 pages, 29 black & white tables, biography

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 23 de junho de 2005
ISBN13 9783540253037
Editoras Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 492
Dimensões 241 × 166 × 37 mm   ·   839 g
Idioma English   German  
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