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Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Donna R. Kemp

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Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.

338 pages, 7 black & white tables, biography

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	18 de outubro de 2006
ISBN13	9783540373186
Editoras	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	338
Dimensões	155 × 235 × 19 mm · 648 g
Idioma	English
Editor	Bhushan, Bharat
Editor	Fuchs, Harald
Editor	Kawata, Satoshi

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