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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

Souvik Mahapatra

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269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Mídia	Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura)
Lançado	14 de agosto de 2015
ISBN13	9788132225072
Editoras	Springer, India, Private Ltd
Páginas	269
Dimensões	155 × 235 × 20 mm · 689 g
Editor	Mahapatra, Souvik