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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Souvik Mahapatra 1st ed. 2015 edition
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R$ 624,90
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Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics
Souvik Mahapatra
269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra
| Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
| Lançado | 14 de agosto de 2015 |
| ISBN13 | 9788132225072 |
| Editoras | Springer, India, Private Ltd |
| Páginas | 269 |
| Dimensões | 155 × 235 × 20 mm · 689 g |
| Editor | Mahapatra, Souvik |
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