CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Livros - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21 de abril de 2016
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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Jiann-Shiun Yuan

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CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 21 de abril de 2016
ISBN13 9789811008825
Editoras Springer Verlag, Singapore
Páginas 106
Dimensões 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg
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