Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond - Springer Theses - Guilei Wang - Livros - Springer Verlag, Singapore - 9789811500459 - 2 de outubro de 2019
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Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond - Springer Theses 2019 edition

Guilei Wang

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Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond - Springer Theses 2019 edition

115 pages, 40 Tables, color; XVI, 115 p.

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 2 de outubro de 2019
ISBN13 9789811500459
Editoras Springer Verlag, Singapore
Páginas 115
Dimensões 454 g