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Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond - Springer Theses 2019 edition
Guilei Wang
Investigation on SiGe Selective Epitaxy for Source and Drain Engineering in 22 nm CMOS Technology Node and Beyond - Springer Theses 2019 edition
Guilei Wang
115 pages, 40 Tables, color; XVI, 115 p.
Mídia | Livros Hardcover Book (Livro com lombada e capa dura) |
Lançado | 2 de outubro de 2019 |
ISBN13 | 9789811500459 |
Editoras | Springer Verlag, Singapore |
Páginas | 115 |
Dimensões | 454 g |
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