Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516093 - 14 de outubro de 2020
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Behnam Ghavami

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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Mídia Livros     Hardcover Book   (Livro com lombada e capa dura)
Lançado 14 de outubro de 2020
ISBN13 9783030516093
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 114
Dimensões 362 g
Idioma German  

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