Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Livros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - 14 de outubro de 2021
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Behnam Ghavami

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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Mídia Livros     Paperback Book   (Livro de capa flexível e brochura)
Lançado 14 de outubro de 2021
ISBN13 9783030516123
Editoras Springer Nature Switzerland AG
Páginas 114
Dimensões 209 g
Idioma German  

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